En poursuivant votre navigation sur ce site, vous acceptez le dépôt de cookies dans votre navigateur. (En savoir plus)
Portail > Offres > Offre UMR5266-EDGRAU-002 - H/F) Post –doctorat : Mesure 3D des orientations cristallographiques de nano-cristaux par tomographie en diffraction électronique

H/F) Post –doctorat : Mesure 3D des orientations cristallographiques de nano-cristaux par tomographie en diffraction électronique

Cette offre est disponible dans les langues suivantes :
Français - Anglais

Assurez-vous que votre profil candidat soit correctement renseigné avant de postuler. Les informations de votre profil complètent celles associées à chaque candidature. Afin d’augmenter votre visibilité sur notre Portail Emploi et ainsi permettre aux recruteurs de consulter votre profil candidat, vous avez la possibilité de déposer votre CV dans notre CVThèque en un clic !

Faites connaître cette offre !

Informations générales

Référence : UMR5266-EDGRAU-002
Lieu de travail : ST MARTIN D HERES
Date de publication : lundi 10 février 2020
Type de contrat : CDD Scientifique
Durée du contrat : 24 mois
Date d'embauche prévue : 4 mai 2020
Quotité de travail : Temps complet
Rémunération : Salaire de 2648€ à 3054€ bruts selon expérience
Niveau d'études souhaité : Doctorat
Expérience souhaitée : Indifférent

Missions

Le projet global vise à développer un outil de caractérisation 3D de matériaux polycristallins par tomographie électronique en mode diffraction. La superposition des cristaux dans une lame mince est la principale limitation à la caractérisation par microscopie électronique en transmission (MET) de nanomatériaux poly-cristallins ou poly-phasés. L' objectif est de résoudre cette difficulté en analysant l'ensemble des figures de diffraction acquises en mode précession et collectées en balayant le faisceau sur la zone d'intérêt, en réalisant ces acquisitions pour des inclinaisons successives de l'échantillon (séries 'tiltés') et en traitant les données avec des algorithmes de reconstruction tomographique dérivés de ceux utilisés pour les rayons X.
Le travail proposé concerne la phase de reconstruction des objets nanométriques à partir des données tomographiques et ce à l'aide de stratégies itératives permettant de lever les verrous liés à la diffraction électronique (e.g. :. effets dynamiques, non-linéarité de la relation intensité/épaisseur massique).

Activités

La personne recrutée devra
- Etablir le plan de travail permettant de récupérer, traiter et analyser les données tomographiques issues de campagnes de mesures sur des microscopes électroniques en transmission en relation avec les opérateurs
- Développer les outils numériques d'alignement des projections, de normalisation des intensités, de reconstruction des objets et de visualisation des résultats.
- Assurer la portabilité et la convivialité d'utilisation des procédures et des outils résultants

Compétences

Qualifications requises
- Un doctorat préférentiellement en science des matériaux, physique ou calcul scientifique
- Une excellence scientifique attestée par des publications et des présentations en conférences internationales
- Une expérience antérieure ou de solides connaissances en programmation, traitement des images, résolutions de problèmes inverses et/ou traitement de données multidimensionnelles
- La maîtrise de la langue anglaise orale et écrite (projet international)

Contexte de travail

Ces développements s'effectuent à Grenoble dans un cadre d'une collaboration entre les laboratoires
- SIMaP (Science et Ingénierie des Matériaux et de procédés – Université de Grenoble) : laboratoire pionnier dans le développement de la technique de caractérisation automatique des orientations cristallographiques en MET (ACOM-TEM ou ASTAR), utilisée dans ce projet (Edgar RAUCH)
- MATEIS (Matériaux : Ingénierie et Sciences, INSA, Lyon) : laboratoire expert en tomographie des rayons X avec notamment le développement de la technique DCT (X-ray Diffraction Contrast Tomography, Wolfgang LUDWIG)
Publications
E.F. Rauch and M. Véron : 'Automated crystal orientation and phase mapping in TEM' Materials Characterization 98 (2014) 1–9
W. Ludwig et al : 'Three-dimensional grain mapping by X-ray diffraction contrast tomography and the use of Friedel pairs in diffraction data analysis'. Rev. Sci. Instrum. 80, 33905–33909 (2009).

Contraintes et risques

Néant

Informations complémentaires

Lettre de motivation, CV détaillé et lettres de recommandations requis.

On en parle sur Twitter !