Missions

Adapter, développer et mettre en œuvre des méthodes et techniques de caractérisation électrique, mécanique, physico-chimique de matériaux, aux échelles micro/nano, dans le cadre de la plateforme de microscopie à force atomique (AFM) du GeePs.

Activités

- Assurer la maintenance des instruments de la plateforme. Procéder à leur étalonnage et leur réglage. Détecter les dysfonctionnements des équipements, diagnostiquer les pannes puis gérer et coordonner les interventions de dépannage. Entretenir des échanges réguliers avec les constructeurs, fournisseurs et prestataires,
- Suivre les évolutions des techniques expérimentales, le cas échéant accompagner l'implémentation de nouvelles techniques, et se former pour les mettre en œuvre,
- Gérer les approvisionnements indispensables pour le fonctionnement de la plateforme (ex : pointes adaptées aux différentes utilisations, supports d'échantillons, etc),
- Assurer le conseil, la formation et l'encadrement technique des utilisateurs. Organiser et gérer le planning d'utilisation de la plateforme. Tenir des cahiers de manipulation propres à chaque équipement,
- Donner un avis technique sur la réalisation des expériences. Proposer au besoin des améliorations ou modifications matérielles ou de mise en œuvre,
- Préparer et conduire les expériences de caractérisation. Traiter, interpréter et mettre en forme les données expérimentales, exploiter les résultats avec les demandeurs. Rédiger des rapports d'analyse,
- Contribuer à la conception, à la mise au point et aux essais des prototypes instrumentaux associés aux AFM développés au laboratoire. Rédiger les documents de spécifications techniques, de conception et de réalisation associés,
- Appliquer et faire respecter dans la salle dédiée à la plateforme les règles d'hygiène et de sécurité, en liaison avec le CSE/CSSCT.

Compétences

Connaissances :
- Instrumentation et mesures physiques (connaissance approfondie),
- Techniques de caractérisation de matériaux (connaissance approfondie),
- Sciences physiques (connaissance générale),
- Électronique analogique (connaissance générale),
- Microcontrôleurs, composants programmables et langages de programmation (connaissance générale),
- Principes et règles de la compatibilité électromagnétique (notions de base),
- Technique de présentation écrite et orale,
- Langue anglaise : B1 à B2 (cadre européen commun de référence pour les langues).

Compétences opérationnelles :
- Mettre en œuvre les techniques de mesure adaptées au domaine,
- Utiliser les logiciels nécessaires au pilotage des appareils et aux traitements des données (LabView, C++, ...),
- Élaborer une méthode scientifique,
- Prendre en compte la validité et les limitations des techniques de caractérisation utilisées,
- Savoir analyser des résultats,
- Communiquer avec des experts de son domaine,
- Savoir rédiger des rapports et des documents techniques,
- Transmettre des connaissances.

Compétences comportementales :
- Sens de l'initiative,
- Sens critique,
- Sens de l'organisation,
- Goût pour le travail en équipe.

Toute candidature est la bienvenue, que le candidat soit confirmé ou peu expérimenté : la prise de fonction sera accompagnée de formations et d'une transmission de savoirs de l'équipe.

Contexte de travail

L'UMR GeePs, située sur le Plateau de Saclay et sur le site de Sorbonne Université (CPMC), compte environ 136 agents permanents et accueille un flux d'environ 200 non- permanents par an. C'est une unité en ZRR dont les tutelles sont le CNRS, CentraleSupélec, l'Université Paris-Saclay et Sorbonne Université.
Elle est organisée en 4 pôles scientifiques : Pôle Electronique, Pôle Electromagnétisme, Pôle Systèmes d'Energie et Pôle Physique des Matériaux et Composants.
L'Ingénieur-e sera intégré-e sur le site du plateau de Saclay au sein du pôle Physique des Matériaux et Composants sous la responsabilité hiérarchique du responsable de pôle. Ce pôle compte 30 personnels permanents (enseignants-chercheurs, chercheurs, ingénieurs de recherche, ingénieurs d'études et techniciens) et 20 personnels non-permanents (principalement doctorants).
Grâce à la mesure des interactions existant à l'échelle nanométrique entre l'extrémité d'une pointe et la surface des matériaux, la microscopie à force atomique (AFM) permet la caractérisation à des échelles allant du nanomètre à quelques dizaines de micromètres sous forme de cartographies de divers types : topographiques, mécaniques, électriques, magnétiques, électrostatiques, de potentiels de surface, etc.
Le GeePs a acquis depuis 25 ans une expertise reconnue en caractérisation électrique locale par AFM à pointe conductrice. Cette expertise s¿est concrétisée par la conception et le développement de deux instruments spécifiques : le "Résiscope" et le "Wide range Current Measurement Device"-WiCM permettant respectivement des mesures locales de résistance et de courant sur plus de 10 décades.
Les 5 équipements de la plateforme AFM du GeePs, tous couplés avec au moins un de ces instruments élaborés en interne, constituent un ensemble original et unique, régulièrement exploité dans le cadre de projets et contrats avec des partenaires académiques ou industriels.